29 марта 2013 года Государственная служба интеллектуальной собственности Украины совместно с Государственным предприятием "Украинский институт промышленной собственности" проводит семинар на тему "Особенности проведения экспертизы заявок на изобретения, полезные модели и топографии интегральных микросхем".

Семинар состоится на безвозмездной основе.

Адрес: г.Киев, ул. Глазунова, 1, актовый зал (9-й этаж) ДП "УИПВ".

Начало - в 10:00, регистрация участников - с 9:30).